手持式四探针电阻率测试仪
型号:
M-3
产品概述:
M-3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
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技术参数产品视频实验案例警示/应用提示配件详情
名称

手持式四探针电阻率测试仪-M-3

产品特征


  • 测试仪由M-3型主机和四探针探头两部分组成

  • 手持式设计,带完善厚度、形状修正功能,测试精准

  • 宽量程:超宽五个档位,相当于中档台式机的量程

  • 操作简便、性能稳定:轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换,LED数字表头显示

  • 多款探头可选,适用于各种不同材料的导电性能测试


工作电源


  • 208-240V,50/60Hz

  • 电池供电:DC3.7V


探头
  • 根据不同材料特性需要,探头可有多款选配

    碳化钨探针探头(固体材料):测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料(详见图1)

    球形或平头镀金铜合金探针探头(薄膜):可测金属箔、碳纸等导电薄膜,也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜,如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层(详见图2)

  • 探头头部安装有平衡基座避免人手操作的误差(详见图3)

图1图2 图3


选配

可选配快速恒压四探针测试台,对测试压力进行调节保证恒压测试,提高测试的精确度


测量范围、分辨率
  • 电阻:0.010~50.00kΩ 分辨率:0.001~10 Ω

  • 电阻率:0.010~20.00kΩ-cm 分辨率:0.001~10 Ω-cm

  • 方块电阻:0.050~100.00kΩ/m2  分辨率0.001~10Ω/m2


基本误差

±1%FSB±2LSB

外形尺寸

210mm L × 100mm W × 36mm H

净重

0.3kg

质保期

一年保质期,终生维护

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